즉 1 FIT는 10^9 시간(11만 4155년)동안 에러가 발생하는 횟수를 의미한다.
QM ASIL A ASIL B ASIL C ASIL D
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FIT 1000이상 1000이하 100이하 100이하 10이하
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FIT 1000이상 1000이하 100이하 100이하 10이하
- FIT = Failure in Time = 1 failure / 10^9 hours
- 1 year MTTF = 109 / (24 * 365) FIT = 114,155 FIT
- SER FIT = SDC FIT + DUE FIT
가령 1000년동안 어떤 HW 장치가 동작중 1번만 failure가 발생하여도 114 FIT이므로, ASIL level B를 만족시키지 못하게 된다.
표에서 알 수 있듯이 ASIL D를 만족시킨다는 것은 10 FIT이하아며 이는 10^8 시간 동안 에러가 한번 이하로 발생하는 것이다. (1만 1415년동안 1회 이하의 에러발생)
추가 정보:
- SDC = Silent Data Corruption
- DUE = Detected + Unrecoverable Error
- SER = Soft Error Rate = SDC + DUE
- MTTF = Mean Time to Failure
- MTTR = Mean Time to Repair
- MTBF = Mean Time Between Failures = MTTF + MTTR
- Availability = MTTF / MTBF
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